基于ICT的自動測試平臺
ICT測試儀介紹
l 短路、開路、元件值測試
l 應用CMOS切換技術(shù),速度快且無使用壽命之限制
l 針對電路板殘留電荷及制成靜電,具有自動放電保
護功能
l 可檢測SMT元件開路及虛焊等問題,及電容極性檢測
l 對晶體、FET、SCR等元件提供3點測量模式
l 可檢測BGA焊腳接觸和虛焊問題
l 可采集波形,可對采樣的波形進行時序分析(沿距、脈寬,時差等)
l 可任意編輯波形,可將波形保存、回放輸出
l 可測量高頻率時鐘信號,最高4GHZ
l 可選用功能式切換電路板,以整合功能測試
l 完整測試報告、測試統(tǒng)計數(shù)據(jù),可自動保存到PC機
l 系統(tǒng)具有自我診斷功能,方便維護保養(yǎng)
l 可用腳本語言編制測試程序(二次開發(fā))控制自動測試全過程
l 可對邏輯通道有解碼顯示和解碼文本輸出(RS232,USB,IIC,HDLC,MAG等)
l 可對采樣的波形進行分析(電平、幅度、頻率、平均值、脈寬、上升下降沿時間等)
l 可編程通用輸入輸出(GPIO)通道和脈寬調(diào)制(PWM)輸出通道可用于對目標板的控制和
監(jiān)測
l 模塊化設計,方便軟硬件升級
l 可實現(xiàn)定制化服務
ICT測試儀規(guī)格參數(shù)
測試通道 邏輯通道:32,可擴展128
模擬通道:16,可擴展64
可編程通用輸入輸出(GPIO)通道:5,可擴展20
脈寬調(diào)制(PWM)輸出通道:2,可擴展到8
測試點數(shù) 標準測試點數(shù)48,可擴展192,測試點可分時復
邏輯解碼 支持RS232,USB,IIC,HDLC,MAG,PS2等,可支持擴展
采樣頻率 邏輯:50MHz
模擬:5MHz
最大高速頻率計測量頻率 4GHz
最大存儲深度 邏輯:2796K采樣點
模擬:4194K采樣點
測試范圍 電阻,電晶體,二極管,電容,電感,IC等元器件
最小電流:0.001A
電壓-1v-6v
可測電路板尺寸 可定制
主控制電腦 Pentium等級以上PC
工作方式 手動
電源 AC100V-120V,200V-240V,50Hz-60Hz,350W
典型測試應用
生產(chǎn)自動化測試:臺應用在嵌入式電子產(chǎn)品的生產(chǎn)測試中,生產(chǎn)測試覆蓋率可達99%以上,
測試效率可提升10倍以上。
壽命測試: 用于鍵盤、繼電器等壽命測試
成功率測試: 用于磁卡、IC卡、條碼、RFID 識讀的成功率測試。
ICT測試儀介紹
l 短路、開路、元件值測試
l 應用CMOS切換技術(shù),速度快且無使用壽命之限制
l 針對電路板殘留電荷及制成靜電,具有自動放電保
護功能
l 可檢測SMT元件開路及虛焊等問題,及電容極性檢測
l 對晶體、FET、SCR等元件提供3點測量模式
l 可檢測BGA焊腳接觸和虛焊問題
l 可采集波形,可對采樣的波形進行時序分析(沿距、脈寬,時差等)
l 可任意編輯波形,可將波形保存、回放輸出
l 可測量高頻率時鐘信號,最高4GHZ
l 可選用功能式切換電路板,以整合功能測試
l 完整測試報告、測試統(tǒng)計數(shù)據(jù),可自動保存到PC機
l 系統(tǒng)具有自我診斷功能,方便維護保養(yǎng)
l 可用腳本語言編制測試程序(二次開發(fā))控制自動測試全過程
l 可對邏輯通道有解碼顯示和解碼文本輸出(RS232,USB,IIC,HDLC,MAG等)
l 可對采樣的波形進行分析(電平、幅度、頻率、平均值、脈寬、上升下降沿時間等)
l 可編程通用輸入輸出(GPIO)通道和脈寬調(diào)制(PWM)輸出通道可用于對目標板的控制和
監(jiān)測
l 模塊化設計,方便軟硬件升級
l 可實現(xiàn)定制化服務
ICT測試儀規(guī)格參數(shù)
測試通道 邏輯通道:32,可擴展128
模擬通道:16,可擴展64
可編程通用輸入輸出(GPIO)通道:5,可擴展20
脈寬調(diào)制(PWM)輸出通道:2,可擴展到8
測試點數(shù) 標準測試點數(shù)48,可擴展192,測試點可分時復
邏輯解碼 支持RS232,USB,IIC,HDLC,MAG,PS2等,可支持擴展
采樣頻率 邏輯:50MHz
模擬:5MHz
最大高速頻率計測量頻率 4GHz
最大存儲深度 邏輯:2796K采樣點
模擬:4194K采樣點
測試范圍 電阻,電晶體,二極管,電容,電感,IC等元器件
最小電流:0.001A
電壓-1v-6v
可測電路板尺寸 可定制
主控制電腦 Pentium等級以上PC
工作方式 手動
電源 AC100V-120V,200V-240V,50Hz-60Hz,350W
典型測試應用
生產(chǎn)自動化測試:臺應用在嵌入式電子產(chǎn)品的生產(chǎn)測試中,生產(chǎn)測試覆蓋率可達99%以上,
測試效率可提升10倍以上。
壽命測試: 用于鍵盤、繼電器等壽命測試
成功率測試: 用于磁卡、IC卡、條碼、RFID 識讀的成功率測試。