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RFID測試技術(shù)交流研討會邀請函

作者:千兆科科技
來源:RFID世界網(wǎng)
日期:2016-06-27 08:42:11
舉辦時間:2016-07-12 到 2016-07-12舉辦地址:深圳中航城格蘭云天大酒店26樓云河廳
摘要:奧地利CISC半導體公司與深圳市千兆科科技有限公司在中國首次舉辦RFID測試技術(shù)交流研討會,誠摯的邀請您及您同事、朋友參加我們的RFID技術(shù)交流研討會。

尊敬的客戶:

  奧地利CISC半導體公司與深圳市千兆科科技有限公司在中國首次舉辦RFID測試技術(shù)交流研討會,誠摯的邀請您及您同事、朋友參加我們的RFID技術(shù)交流研討會。

  CISC是歐洲著名的聚焦于汽車、RFID及NFC系統(tǒng)設計、建模、仿真及測量技術(shù)的廠家,也是RFID、NFC及非接卡測試測量方案的國際領導者。此次有幸邀請CISC的首席技術(shù)官Josef Preishuber-Pflügl先生進行全天關于RFID標準及測試的演講及技術(shù)交流,內(nèi)容涵蓋了UHF、HF/NFC的標簽、芯片及讀寫器。

  時間:2016年7月12日星期二 9:00~16:30

  地點:深圳市深南中路3024號深圳中航城格蘭云天大酒店26樓云河廳

  (羅寶線華強路B出口)

RFID測試技術(shù)交流研討會邀請函

  聯(lián)系人:羅海濤 電話:13923483903 Email:terry.luo@giga-science.com

  請將參與人數(shù)、姓名及聯(lián)系方式發(fā)至以上郵箱或電話告知,以便安排午餐。

  研討會議程

9:00

簽到

9:30

歡迎致辭

9:40

UHF RFID標準及測量方法
ISO/IEC 18000-63 Type C
EPCglobal Gen2V2
RAIN RFID

10:15

如何測量RFID標簽的主要參數(shù)?

10:45

休息

11:00

如何測量RFID讀寫器的主要參數(shù)?
為實際應用選擇讀寫器及標簽

12:00

午餐

13:00

UHF RFID實際應用案例

14:30

休息

14:45

HF/NFC標準及測試

15:15

NFC互操作性測試
成功的應用及讓客戶滿意

16:30

技術(shù)互動

  演講嘉賓介紹:

RFID測試技術(shù)交流研討會邀請函

  Josef Preishuber-Pflügl先生CISC半導體公司CTO,主導面向RFID性能一致性的ISO/IEC JTC1 SC31 WG4/SG6標準(兼容ISO/IEC 18046和ISO/IEC 18047)和RF通信 (RFID, RTLS, 安全) ISO / IEC JTC1 SC31 WG4標準制定工作,是奧地利標準化組織的信息技術(shù)和RFID技術(shù)相關標準召集人。此外,他是ISO/IEC 18000-63標準的項目編輯,負責Type C的修正草案,EPCglobal UHF Class 1Gen 2已采納該ISO標準。他還在負責將ISO/IEC 18000-63REV1納入EPC Gen2V2當中,現(xiàn)被稱為RAIN RFID。自2008年起,他還是ETSI ERM TG34 for RFID機構(gòu)的副主席。

  他帶領CISC積極加入EPCglobal。在2004年,他在EPCglobal曾擔任SB JRG和HACET等分支機構(gòu)的聯(lián)合主席。目前,他是美國GS1 EPCglobal下面UHF空中接口小組的聯(lián)席主席,負責空中接口標準和一致性測試標準定制。