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EPCglobal 發(fā)布2005年2月份對Class0和Class 1硬件一致性測試結果

作者:EPCglobal China  
日期:2007-03-04 11:41:38
摘要:EPCglobal 發(fā)布2005年2月份對Class0和Class 1硬件一致性測試結果
關鍵詞:標準法規(guī)

摘要:EPCglobal 對 Class 0 和Class 1硬件最終一致性測試已經完成。硬件一致性測試評定眾多生產廠商制造的包括RFID標簽、識讀器和打印機/編碼器等在內的所有相關產品。

  EPCglobal 很自豪的對EPCglobal系統(tǒng)成員宣布,EPCglobal 對 Class 0 和Class 1硬件最終一致性測試已經完成。這是EPCglobal 對EPCglobal 系統(tǒng)成員提高EPC和RFID技術硬件一致性的一項巨大貢獻。

  硬件一致性測試評定包括對眾多生產廠商制造的所有相關產品的Class 0 和Class 1一致性測試,這些產品包括RFID標簽、識讀器和打印機/編碼器等。美國的權威認證和測試機構MET實驗室,在監(jiān)控環(huán)境下,于2005年2月15~17日在巴爾的摩的馬里蘭實驗室進行了此項此測試。

  對所有參與企業(yè)和產品的一致性測試結果已經在EPCglobal網站發(fā)布(www.EPCglobalinc.org/interoperability)供用戶參考。通過向系統(tǒng)成員發(fā)布這些測試結果,有助于進一步推動EPC 和RFID技術的應用和實施。