6月25日記者獲悉，日本Sun將設(shè)立面向無線標(biāo)簽（RFID標(biāo)簽）系統(tǒng)構(gòu)筑的互聯(lián)性能測試機(jī)構(gòu)“SUN RFID設(shè)計(jì)中心”。該中心將于2004年7月開始正式運(yùn)行。
　　據(jù)了解，該中心將匯集伙伴企業(yè)開發(fā)的無線標(biāo)簽、讀寫器及相關(guān)軟件，對互聯(lián)性能進(jìn)行測試。比如說，同樣聲稱遵循通信頻率13.56MHz的國際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC15693的無線標(biāo)簽，各廠商間在標(biāo)準(zhǔn)上也多少存在差別。因此，就會出現(xiàn)系統(tǒng)可翠讀取某廠商的無線標(biāo)簽中的數(shù)據(jù)，而無法讀取其他無線標(biāo)簽的情況。該中心的建立的目的就是發(fā)現(xiàn)并解決這些讀取標(biāo)簽問題。