恩智浦的Pegoda II閱讀器

　　RFID標簽和閱讀器的芯片供應商AdvanIDe公司，推出了一個工具包，旨在幫助應答器制造商、運輸運營商和其他廠商，檢查標簽或非接觸卡的芯片真實性，并確認是否已被克隆。

　　NXP Mifare Classic 1K克隆檢測工具，包括恩智浦半導體的Mifare Pegoda II閱讀器(帶有一個SAM安全訪問模塊)，以及額外的測試卡和軟件，可以驗證恩智浦Mifare Classic芯片的真實性。

　　根據(jù)AdvanIDe稱，如果IC已被克隆，它就會表現(xiàn)出性能不穩(wěn)定，讀寫距離也會相對縮減，這兩者都會讓假芯片現(xiàn)出原形。

　　AdvanIDe的這套工具現(xiàn)售價250美元，包括閱讀器、USB線、光盤(包含AdvanIDe的獨創(chuàng)性檢查軟件和文檔)，三張下一代Mifare Classic卡，和一個仿Mifare的樣卡。(RFID世界網(wǎng)編譯)

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