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凱路威X-RFID芯片標簽已通過100年的數據保持時間測試

作者:kiloway
來源:凱路威
日期:2015-07-30 14:43:59
摘要:本公司的X-RFID芯片標簽在相關部門的檢測下得出結果,該芯片可以有效保存數據達70年。

電子標簽可靠性的一個重要參數指標是數據保持能力(Data Retention)。傳統的RFID芯片采用EEPROM(包括任何以浮置柵為基本結構的存儲器)作為存儲器件,數據保持時間一般聲稱為10年。X-RFID采用不含浮置柵結構的存儲器件,存儲機理決定其數據保持能力是永久性的。

中國電子科技集團公司第五十八所檢測中心是取得國家相關資質的第三方檢測單位。受凱路威公司委托,該中心用高溫加速壽命試驗對X-RFID的數據保持能力進行檢測并出具書面檢測報告判定:在常溫存儲條件下,該芯片可以有效保存數據達100年。

提供考核的全部X-RFID試驗樣本,經歷數千小時的加速壽命試驗后無一失效。凱路威公司將以100年為目標,對X-RFID的數據保持能力進一步考核。

這是目前世界上數據保持能力最高的RFID產品。100年的數據保持能力,極大地擴展了電子標簽的應用領域:


& #61656; 機密檔案和圖書館等珍貴書籍和文物的管理。
& #61656; 資產管理
& #61656; 高可靠證卡
& #61656; ……
迄今,X-RFID芯片產品已成功應用于檔案管理項目上。

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