測(cè)試解決方案提供商Comprion在本周德國(guó)紐倫堡召開(kāi)的嵌入式世界大會(huì)上推出一款名為CL Development的NFC測(cè)試產(chǎn)品。該系統(tǒng)可用于驗(yàn)證接口設(shè)計(jì)、執(zhí)行功能測(cè)試或驗(yàn)證互操作性。

　　Comprion表示，NFC市場(chǎng)上新技術(shù)層出不窮，大多數(shù)NFC設(shè)備尚未按照通用標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試。該公司解釋說(shuō)，標(biāo)準(zhǔn)往往不會(huì)面面俱到，NFC應(yīng)用需要符合其自身規(guī)范。功能NFC系統(tǒng)(如訪問(wèn)控制和非接觸式支付系統(tǒng))通常通過(guò)手機(jī)進(jìn)行擴(kuò)展，因此會(huì)存在兼容性問(wèn)題。單獨(dú)測(cè)試后，NFC模塊可以集成到車門把手、終端或機(jī)器中，這些材料也可能對(duì)NFC產(chǎn)生干擾。

　　Comprion公司NFC測(cè)試解決方案開(kāi)發(fā)負(fù)責(zé)人Michael Jahnich在一份準(zhǔn)備好的聲明中說(shuō)：“這些問(wèn)題都會(huì)導(dǎo)致嚴(yán)重的后果，甚至導(dǎo)致產(chǎn)品召回。這些問(wèn)題可以在開(kāi)發(fā)階段早期進(jìn)行測(cè)試來(lái)避免。” CL產(chǎn)品專為NFC開(kāi)發(fā)測(cè)試而設(shè)計(jì)，可用于以下領(lǐng)域：

　　預(yù)先一致性測(cè)試，可減少昂貴的測(cè)試實(shí)驗(yàn)費(fèi)用：符合EMVC和NFC論壇的測(cè)試平臺(tái)可確保NFC設(shè)備符合規(guī)范并為其認(rèn)證做好準(zhǔn)備，這樣可以減少測(cè)試室中昂貴的實(shí)驗(yàn)費(fèi)用。

　　功能測(cè)試，用于定制NFC設(shè)備測(cè)試：借助API，可以編寫和運(yùn)行定制測(cè)試。通過(guò)這種方式，移動(dòng)網(wǎng)絡(luò)運(yùn)營(yíng)商或應(yīng)用開(kāi)發(fā)商可以確保NFC設(shè)備符合其特殊要求。

　　互操作性測(cè)試，可查找到錯(cuò)誤原因：發(fā)生問(wèn)題時(shí)，該產(chǎn)品可以顯示問(wèn)題信息。分析軟件可以定位潛在的錯(cuò)誤來(lái)源并解決問(wèn)題。

　　設(shè)計(jì)驗(yàn)證，以優(yōu)化設(shè)計(jì)：該解決方案可以識(shí)別磁場(chǎng)形式及強(qiáng)度，從而對(duì)設(shè)計(jì)優(yōu)化提供建議。同時(shí)，該功能還可以識(shí)別和移除由周圍材料引起的干擾因素。

　　CL開(kāi)發(fā)產(chǎn)品是一個(gè)模塊化系統(tǒng)，由不同的硬件和軟件組件組成，可配置為匹配特定的測(cè)試案例。Jahnich在準(zhǔn)備好的聲明中表示：“客戶無(wú)需為不使用的軟件和功能付費(fèi)，只需為實(shí)際需要的軟件和功能付費(fèi)。同時(shí)，該系統(tǒng)還可以通過(guò)添加更多組件來(lái)擴(kuò)展，以便覆蓋其他應(yīng)用領(lǐng)域。”