“國立故宮博物院”所典藏的底片約有10萬片，且每年約有2,000張的新增底片，經(jīng)常因?qū)W術(shù)研究、月刊、底片授權(quán)使用等目的，底片進(jìn)出頻率甚為頻繁。而過去大多以人力手動(dòng)輸入之方式進(jìn)行借出去、查詢及盤點(diǎn)，較為耗時(shí)及作業(yè)成本，且因底片本身皆放置于一底片外袋中，于大量的借出入時(shí)會(huì)發(fā)生底片錯(cuò)置外袋的可能，加上若可以一次大量辨識(shí)底片則可以改善現(xiàn)有的盤點(diǎn)模式，將可以達(dá)到正確快速的盤點(diǎn)目標(biāo)。 

　　在本次概念性驗(yàn)證的技術(shù)需求上，仍需維持現(xiàn)有作業(yè)之一次大量借出入，所以，RFID應(yīng)用要輔助作業(yè)人員可以利用讀取器直接辨識(shí)底片本身之電子標(biāo)簽而及外袋。驗(yàn)證上的重點(diǎn)則在找出可以直接貼附于底片的電子標(biāo)簽，此外，標(biāo)簽背面的接著劑需為無酸膠以避免毀壞底片，此外，因?yàn)楣蕦m存放底片的方式都非常的緊密，思考如何達(dá)成快速盤點(diǎn)目的，則電子標(biāo)簽須可以達(dá)到堆疊讀取之效能。 

　　概念性驗(yàn)證內(nèi)容 

　　本次概念性驗(yàn)證內(nèi)容分為三個(gè)階段包含：基本性能測試、實(shí)驗(yàn)室模擬測試及實(shí)際導(dǎo)入測試。其包含讀取距離、外袋材質(zhì)讀取效能、堆疊方式及讀取效能、底片貼附標(biāo)簽進(jìn)行掃描測試。 

　　(一) 貼附底片電子標(biāo)簽選用 

　　一如前述，找出可以直接貼附于底片的電子標(biāo)簽是本次驗(yàn)證重點(diǎn)之一。 

　　本次驗(yàn)證根據(jù)廠商提供之電子標(biāo)簽進(jìn)行測試，一共有三個(gè)頻段分別是HF、UHF及2.45GHz，但因底片邊緣可進(jìn)行RFID貼附之空間有限，現(xiàn)有HF、UHF標(biāo)簽過大，不符條件。本驗(yàn)證所得選用日晶科技所提供的2.45G Mu chip，其標(biāo)簽大小為長*寬為5.1mm * 1.5mm，如圖1所示。另一方面無酸接著劑的部份，于本次驗(yàn)證亦有負(fù)責(zé)化學(xué)材料的亞洲日信針對(duì)該電子標(biāo)簽進(jìn)行無酸膠的開發(fā)，因ISO國際規(guī)定的無酸紙PH值介于7-9之間，而本次概念性測試的PH值介于7-8.5，符合于ISO標(biāo)準(zhǔn)之內(nèi)。 

 

圖1、本驗(yàn)證所用2.45G Mu chip 

　　于解決底片貼附電子標(biāo)簽的問題后，須再克服底片后續(xù)應(yīng)用之議題，因此進(jìn)行測試底片貼附標(biāo)簽后，底片是否于后續(xù)借出進(jìn)行掃描有所影向，本次測試于裕華彩藝印刷廠進(jìn)行實(shí)地測試，如圖2所示。該次測試之目的在于確定底片所掃瞄出來的圖檔是否會(huì)有色差或異物狀等影響，及貼附電子標(biāo)簽是否會(huì)影響掃瞄作業(yè)。于印刷廠實(shí)地驗(yàn)測，如圖3所示，電子標(biāo)簽貼附位置應(yīng)為朝向上，且非于掃描時(shí)固定底片使用的膠帶位置，另于掃描后電腦畫面放大顯示，并無異物狀及色差等問題產(chǎn)生，該結(jié)果可提供“國立故宮及”其它博物館等底片應(yīng)用參考。 

圖2、本驗(yàn)證于裕華彩藝印刷廠進(jìn)行實(shí)地測試 

圖3、本驗(yàn)證測試電子標(biāo)簽貼附位置 

　　(二) 底片盤點(diǎn)應(yīng)用測試 

　　然而，在底片外袋上則較無尺寸的限制。惟，考量成本與市面既有設(shè)備下，本次盤點(diǎn)應(yīng)用使用UHF及HF兩種頻段進(jìn)行應(yīng)用測試時(shí)，測試的三種不同的堆疊方式，其示意如下圖所示： 

圖4、底片盤點(diǎn)應(yīng)用測試三種不同的堆疊方式 

　　約使用20張的電子標(biāo)簽進(jìn)行測試后，以天機(jī)開發(fā)所提供的HF其堆疊讀取效能為佳，于上述的三種堆疊方式階可以有效100%讀取，而該設(shè)備為符合ISO 18000-3 Mode 2標(biāo)準(zhǔn)，于標(biāo)簽密集堆疊能有效讀取，該標(biāo)準(zhǔn)能滿足密集堆疊之?dāng)?shù)量盤點(diǎn)的應(yīng)用所需，如圖5中所示，于該天線所涵蓋之范圍皆可進(jìn)行堆疊讀取。

圖5、可進(jìn)行堆疊讀取的堆疊方式

　　(三) 實(shí)地進(jìn)行驗(yàn)證測試 

　　于“國立故宮博物院”底片庫進(jìn)行的驗(yàn)測流程及情境為圖6所示，包含為新增底片、儲(chǔ)存、底片借出及歸還和盤點(diǎn)作業(yè)，一次大量借出入的作業(yè)考量是驗(yàn)測流程設(shè)計(jì)的重點(diǎn)。 

圖6、驗(yàn)測流程及情境  

　　1. 新增底片作業(yè)測試 

　　新增底片作業(yè)測試系統(tǒng)畫面如圖7所示，主要于底片、外袋及該文物底片資料進(jìn)行資料之連結(jié)，于該筆資料之登錄號(hào)查詢出資料后，進(jìn)行底片及外袋RFID電子標(biāo)簽ID的讀取后進(jìn)行資料連結(jié)即可。 

圖7、新增底片作業(yè)測試系統(tǒng)畫面  

　　2. 底片借出入作業(yè)測試 

　　底片借出入作業(yè)須確定底片本身及外袋ID，并輸入借用人申請資料，如圖8中所示，讀取底片本身ID無須抽出外袋，再于下個(gè)步驟讀取保存外袋的電子標(biāo)簽ID，以確定兩者沒有錯(cuò)置，并于歸還時(shí)一樣進(jìn)行讀取底片和外袋的ID后系統(tǒng)可以直接帶出該借用申請資料，若是讀取底片ID和保存外袋是錯(cuò)置而非當(dāng)然借出的ID，則歸還時(shí)系統(tǒng)不會(huì)帶出借用申請資料。 

圖8、底片借出入作業(yè)測試系統(tǒng)畫面  

　　3. 底片盤點(diǎn)作業(yè)測試 

　　基于本來底片庫所使用的底片儲(chǔ)存方式于金屬材質(zhì)內(nèi)，若是使用手持式讀取設(shè)備直接讀取柜內(nèi)的底片較為困難，且讀取效果不佳。 

圖9、直接讀取柜內(nèi)的底片較為困難     圖10、將底片置于容器內(nèi)再行讀取  

　　建議盤點(diǎn)時(shí)可以將底片取出讀取，因此，改變原有的儲(chǔ)存方式，于柜內(nèi)約將200張底片置于一個(gè)容器內(nèi)，再將容器取出放于讀取器旁進(jìn)行盤點(diǎn)，因此可以避免底片散落及加速帶量盤點(diǎn)等作業(yè)，于第三階段進(jìn)行測試的結(jié)果，一次帶量為40張底片進(jìn)行盤點(diǎn)讀取，約只有花費(fèi)1-2秒中，將可以大幅減少過去人力及時(shí)間。 

圖11、于查詢、于查詢、借出及歸還時(shí)系統(tǒng)可帶出該底片之圖檔

　　未來相關(guān)應(yīng)用建議 

　　于本次驗(yàn)證的觀察若標(biāo)簽為密集讀取時(shí)，若需使用UHF后建議標(biāo)簽于貼附于標(biāo)的物時(shí)，采交錯(cuò)貼附之方式，減少金屬材質(zhì)對(duì)于標(biāo)簽讀取上的影響，而此次采用HF設(shè)備符合ISO 18000-3 Mode 2標(biāo)準(zhǔn)，于標(biāo)簽密集堆疊能有效讀取，該標(biāo)準(zhǔn)能滿足密集堆疊之?dāng)?shù)量盤點(diǎn)的應(yīng)用所需。而于導(dǎo)入的現(xiàn)場測試階段，于查詢、于查詢、借出及歸還時(shí)，系統(tǒng)畫面可帶出該底片之圖檔，以便底片進(jìn)出庫房時(shí)可以再次確認(rèn)底片及系統(tǒng)上顯示的圖片是否相同，并于盤點(diǎn)時(shí)的畫面除了可以顯示欲盤點(diǎn)的底片外，亦可以顯示出錯(cuò)置的底片相關(guān)訊息。  

　　(文/經(jīng)濟(jì)部RFID公領(lǐng)域應(yīng)用推動(dòng)辦公室．李明興專案經(jīng)理)