每一個RFID通信系統(tǒng)都必須通過監(jiān)管要求并符合所用標(biāo)準(zhǔn)。今天我們就來討論下RFID通信系統(tǒng)的設(shè)計師所面對的測試挑戰(zhàn)。

　　RFID技術(shù)有幾個不同尋常的工程測試挑戰(zhàn)，例如瞬時信號、帶寬效率低的調(diào)制技術(shù)和反向散射數(shù)據(jù)。RFID標(biāo)簽是由RFID天線與RFID芯片構(gòu)成的，而RFID標(biāo)簽和讀寫器就構(gòu)成了整個RFID系統(tǒng)。

　　在RFID測試標(biāo)準(zhǔn)里面，RFID標(biāo)簽和讀寫器的測試有規(guī)范性測試(包括時序、波頻、頻譜等)和性能測試(包括反向功率、讀距、反向距離等)，RFID系統(tǒng)則包括效率測試和互操作性測試。

　　系統(tǒng)測試標(biāo)準(zhǔn)

　　傳統(tǒng)的掃頻調(diào)諧頻譜分析儀、矢量和已被用于無線數(shù)據(jù)鏈路的開發(fā)。然而，這些工具用于RFID測試時都存在一些缺點。掃頻調(diào)諧頻譜分析儀難以準(zhǔn)確捕獲和刻畫瞬時RF信號。矢量儀實際上不支持頻譜效率低的RFID調(diào)制技術(shù)及特殊解碼要求?？焖偈静ㄆ鞯臏y量動態(tài)范圍小，不具備調(diào)制和解碼功能。

　　標(biāo)簽及標(biāo)簽芯片的測試方式，一是性能測試，它會涉及到校準(zhǔn)及環(huán)境、激活功率、反向功率等，當(dāng)測試所選擇的天線、指令(Query, Read EPC)、發(fā)射功率設(shè)置及擺放位置的不同，也會導(dǎo)致測試結(jié)果的不相同。二是方向性測試，不同角度的標(biāo)簽導(dǎo)致其性能差別很大。除此之外，還有全自動規(guī)范性測試生成測試報告，當(dāng)通過自動化規(guī)范性測試軟件了解到不合格的項目之后，針對不合格的項目可以對具體的波形、時序、頻譜進行分析，標(biāo)簽存取測試如讀/寫內(nèi)存測試等，快速了解標(biāo)簽或標(biāo)簽芯片存在的規(guī)范性問題。

　　在性能測試上，獨立標(biāo)簽測試需要標(biāo)簽回復(fù)(仿真標(biāo)簽)去確認(rèn)讀寫器可以識別的標(biāo)簽的響應(yīng)，并且讀寫器可以改變標(biāo)簽的參數(shù)變量如 BLF變量(反向鏈路頻率)和占空比變量等，最后會呈現(xiàn)出可以支持頻率和整個功率范圍的讀寫器性能。

　　而在規(guī)范性測試上，通過仿真標(biāo)簽及Rx天線接收來自讀寫器的信號，可以分析每個指令的內(nèi)容、波形、時序等，且可以設(shè)置指令觸發(fā)并長時間記錄數(shù)據(jù)流。

　　系統(tǒng)項目

　　RFID系統(tǒng)測試方式，其系統(tǒng)性能依賴于標(biāo)簽性能、讀寫器性能和協(xié)議設(shè)置和軟件這幾方面。系統(tǒng)測試需要獲得相關(guān)的信息，如標(biāo)簽與讀寫器之間通信的實際內(nèi)容，需要讀寫器指令及標(biāo)簽響應(yīng)時序、指令去觸發(fā)分析;通信內(nèi)容統(tǒng)計需要Q值、響應(yīng)次數(shù)、沖突次數(shù)等去讀取標(biāo)簽次數(shù)并進行指令統(tǒng)計。

　　滿足基本規(guī)范后，對RFID產(chǎn)品的性能進行優(yōu)化以贏得某一特定市場空間的競爭優(yōu)勢就顯得尤為重要。性能指標(biāo)包括標(biāo)簽的讀取速度、標(biāo)簽在多閱讀器環(huán)境中的工作能力和標(biāo)簽與閱讀器之間的距離。在消費應(yīng)用中，標(biāo)簽與閱讀器之間的通信速度直接影響用戶的滿意度。

　　由于無源標(biāo)簽從RFID閱讀器獲得它們正常工作所需的能量，多個閱讀器可能導(dǎo)致標(biāo)簽試圖對詢問它的每一個閱讀器都進行響應(yīng)。在多閱讀器情況下，可以通過RFID測試系統(tǒng)來改善系統(tǒng)的吞吐量需要使用某種防沖突協(xié)議。