產(chǎn)品詳情：

3D多天線超高頻RFID標(biāo)簽綜合測(cè)試系統(tǒng)包括:
- 超高頻R F I D測(cè)試屏蔽室（JT-RFID Anechoic ROOM）
- 多天線超高頻R F I D集成測(cè)試儀（JT-RFID Integrated Tester）
- 多天線超高頻R F I D綜合測(cè)試軟件（JT-RFID Test Software）
- 測(cè)試配件（操作培訓(xùn)，保養(yǎng)支持服務(wù)，測(cè)試校準(zhǔn)標(biāo)簽等）

杰拓超高頻RFID測(cè)試暗室是方便和低成本的測(cè)試環(huán)境解決方案,為超高頻RFID標(biāo)簽量身打造的屏蔽測(cè)試環(huán)境。屏蔽箱內(nèi)有4個(gè)不同角度測(cè)試天線，自動(dòng)旋轉(zhuǎn)馬達(dá)以及紅外攝像頭，不需要人工介入就可以對(duì)天線的擺放位置進(jìn)行調(diào)整。配合杰拓多天線集成測(cè)試儀和軟件使用，只需一個(gè)按鈕，就能自動(dòng)記錄下標(biāo)簽全方位的多天線測(cè)試反射特性和性能指標(biāo)。

杰拓多天線超高頻RFID集成測(cè)試儀是整個(gè)超高頻RFID綜合測(cè)試系統(tǒng)的核心。其集成了所有EPC C1G2所描述的標(biāo)簽讀寫能力，能夠快速準(zhǔn)確的進(jìn)行輸出功率調(diào)節(jié)和標(biāo)簽讀寫測(cè)試。

杰拓多天線超高頻R F I D綜合測(cè)試軟件利用4個(gè)天線對(duì)單個(gè)標(biāo)簽進(jìn)行最小功率、讀（或?qū)懀┚嚯x、靈敏度、場(chǎng)強(qiáng)、反向靈敏度、反向距離、以及雷達(dá)反射截面等測(cè)試。
對(duì)多標(biāo)簽測(cè)試是4個(gè)天線對(duì)多個(gè)標(biāo)簽進(jìn)行最小功率、讀（或?qū)懀┚嚯x、靈敏度、場(chǎng)強(qiáng)、反向靈敏度、反向距離、以及雷達(dá)反射截面等測(cè)試。

杰拓綜合測(cè)試校準(zhǔn)標(biāo)簽用于測(cè)試系統(tǒng)校準(zhǔn)。校準(zhǔn)標(biāo)簽提供了860-960MHz 之間的標(biāo)簽靈敏度和反向靈敏度數(shù)據(jù)。與杰拓RFID綜合測(cè)試軟件配合使用，可以達(dá)到更好的測(cè)試精確度。


杰拓提供軟件使用培訓(xùn)，可以定制功能開(kāi)發(fā)，以及定期軟件升級(jí)和硬件維護(hù)。