產(chǎn)品詳情：

功能簡介：
標簽性能綜合測試儀是一臺用于超高頻和高頻標簽性能測量和評估的檢測設(shè)備，該儀器使用了新一代電子元器件，使設(shè)備更小巧精致，處理能力更強，測試速度更快，配有多種測試選件和附件，客戶可按需求選擇，后續(xù)升級靈活方便，節(jié)省成本。
主要測試參數(shù)：
1.標簽的激活靈敏度
2.標簽激活電場強度
3.標簽反方向散射功率
4.標簽正反方向識讀距離
5.天線接收反向散射功率
6.天線接收反向散射信號相位
7.天線接收反向散射截面積
主要測試能力：
設(shè)計性能測試：用于標簽設(shè)計和標簽選型測試，可實時判定標簽各項性能，對比標簽在不同封裝形勢下的性能變化，確定標簽改進方向。
應(yīng)用場景測試：用于測試標簽在現(xiàn)場應(yīng)用環(huán)境下的性能，如多標簽堆疊場景，移動場景等，并結(jié)合群標簽管理器，動態(tài)跟蹤特定標簽在應(yīng)用場景中的響應(yīng)情況。